2013-08-06

Caracterización de dispositivos electrónicos basados en materiales avanzados sobre silicio cristalino

Oliveros ortíz, Edward Steven's

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http://hdl.handle.net/10614/5183
Title: Caracterización de dispositivos electrónicos basados en materiales avanzados sobre silicio cristalino
Authors: Fonthal Rico, Faruk, director
Oliveros ortíz, Edward Steven's
Keywords: Ingeniería Electrónica
Semiconductores
Silicio
Issue Date: 6-Aug-2013
Publisher: Universidad Autónoma de Occidente
Abstract: Mientras las tecnologías avanzan cada día más rápido, los materiales semiconductores tienen que cumplir con requisitos cada vez más estrictos en búsqueda del mejoramiento del rendimiento de los dispositivos semiconductores, esto ha forzado a los fabricantes a obtener nuevas tecnologías y con ello mejores características lo cual ha requerido una evaluación previa del desempeño de dichos dispositivos mediante pruebas experimentales y simulaciones. Por este motivo es necesario realizar investigaciones sobre materiales más avanzados, las dimensiones de los dispositivos y las propiedades eléctricas que permitan determinar los parámetros de funcionamiento de estos. Esto nos ha llevado a lanzar una búsqueda sobre posibles materiales que nos permitan trabajar en diferentes regiones del rango espectral, como lo es el silicio poroso (de aquí en adelante abreviado “SP”) que posee emisiones en el infrarrojo. Con estas propiedades naturales del material, establecemos como parámetro importante la dimensión de las capas de los materiales con el fin de buscar confinamientos cuánticos que permitan determinar las longitudes de onda en la que trabajan los dispositivos optoelectrónicos
URI: http://hdl.handle.net/10614/5183
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